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文章来源:yndl1381 发布时间:2024-05-08 14:13:21

值得一提的是,平均捕获特别适合执行谐波分析或电源质量分析。平均捕获方式高分辨率捕获模式 就是高分辨率捕获模式,打个比方,其工作原理就是将一个波形分成5份,然后将一份波形的的每个点求平均, 终一个波形变成了5个点。这种方式可以有效改善系统的等效分辨率,本质上就是一种数字滤波。用于求平均的采样点数越多,分辨率提高得越多,显示的波形更平滑,从而达到减少噪声的目的。需要注意的是,高分辨率是针对一个波形相邻的点平均,所以该模式是对不重复的信号以牺牲带宽的方式来提升测试精度,故不适合测试高频信号,适用于观察高分辨率且带宽较低的波形。更科学的指标是信号与噪声失真比(SINAD),以及有效位数(ENOB)。SINAD的测量需要输入一定频率、一定幅度的高信噪比正弦波给示波器,计算信号功率和噪声失真功率之比。ENOB在数学上可以通过SINAD计算得到。SINAENOB与输入信号频率、幅度的大小以及示波器的工作状态都有关。HRO不仅ADC位数比其他实时示波器高,也有极低的噪声水平。半导体生产流程由晶圆,晶圆测试,芯片封装和封装后测试组成,晶圆和芯片封装讨论较多,而测试环节的相关知识经常被边缘化,下面集中介绍集成电路芯片测试的相关内容,主要集中在WAT,CP和FT三个环节。集成电路设计、、封装流程示意图WAT(WaferAcceptanceTest)测试,也叫PCM(ProcessControlMonitoring),对Wafer划片槽(ScribeLine)测试键(TestKey)的测试,通过电性参数来监控各步工艺是否正常和稳定,CMOS的电容,电阻,Contact,metalLine等,一般在wafer完成制程前,是Wafer从Fab厂出货到封测厂的依据,测试方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上,ProbeCard另一端接在WAT测试机台上,由WATRecipe自动控制测试位置和内容,测完某条TestKey后,ProbeCard会自动移到下一条TestKey,直到整片Wafer测试完成。

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流通蒸气法是指在常压条件下,采用1摄氏度流通蒸气加热杀灭微生物的方法,时间通常为3-6分钟。该法适用于消以及不耐高热制剂的,但不能保证杀灭所有芽孢,是非可靠的方法。间歇蒸汽法利用反复多次的流通蒸汽加热,杀灭所有微生物,包括芽胞。方法同流通蒸汽法,但要重复3次以上,每次间歇是将要的物体放到37℃孵箱过夜,目的是使芽胞发育成繁殖体。若被物不耐1℃高温,可将温度降至75℃~8℃,加热延长为3~6分钟,并增加次数。您在使用CAN或RS-485总线进行调试时,是否遇到过偶尔通信出错?或者接收不到数据?一直正常使用的总线,突然出现大范围的错误,或者节点损坏?您还在为这些问题不知所措,摸不着头脑吗?使用总线隔离,或许能轻易帮您解决问题。实际总线应用中,您是否遇到过以下问题:1.设备及人身安全——潜在的高压危险CAN、RS-485总线的使用环境非常复杂,一些恶劣的使用场合会存在高压。极容易产生触电危险,危及人身或设备安全。

但协议参数设置和解码设置都正确,为什么会出现收发不一致的现象呢?解码时协议参数设置中的波特率都设置为9600bps,实际为9600bps,10126bps的波形图解码结果对比(如所示)分析为例,分享波特率漂移后导致波形有偏差,从而出现通信异常的原因排查过程。同一解码波特率下的不同波形解码结果图首先讲讲UART的解码原理。当示波器解码UART信号时,将空闲电平之后的下降沿作为始位,然后从波形中等间隔采样,以等间隔时间段内的采样点中的多数状态作为该位的解码数值。